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2025-04-09 - 椭偏仪(Ellipsometer)是一种基于椭圆偏振光原理的非接触式光学测量设备,广泛应用于薄膜厚度、光学常数(折射率、消光系数)、表面粗糙度及材料结构的表征。其高精度、非破坏性和快速检测能力使其在半导体、光伏、显示面板、光学镀膜等领域占据重要地位。本报告旨在系统介绍椭偏仪测试的核心要素,涵盖检测范围、检测项目、检测方法及仪器类型,为科研与工业应用提供技术参考。
https://m.py120.net/jiance/jiancebaogao/32825.html - 检测报告
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