检测项目

1. 长度偏差：±0.05mm（基准长度50-500mm）

2. 宽度公差：±0.03mm（测量范围10-300mm）

3. 厚度均匀性：≤±1.5μm（厚度0.1-2.0mm）

4. 边缘直线度：≤0.02mm/m

5. 圆角半径偏差：±0.01mm（R0.1-R5.0）

6. 孔径尺寸误差：±5μm（φ0.2-φ10mm）

7. 定位孔间距精度：±8μm（间距5-200mm）

8. 表面粗糙度：Ra 0.02-0.8μm

9. 翘曲度：≤0.15mm/100mm

10. 垂直度误差：≤0.03°（基准面与侧面）

11. 轮廓度公差：±0.05mm（复杂曲面测量）

12. 热收缩率：≤0.05%（23℃→85℃）

13. 拉伸变形量：≤1%（载荷5N/mm²）

14. 透光均匀性：≥98%（可见光波段）

15. 边缘毛刺高度：≤5μm（100倍显微镜观测）

检测范围

1. 聚酯薄膜（PET）基材

2. 聚酰亚胺（PI）柔性电路板

3. 硅胶防震胶片

4. 光学级PMMA导光板

5. 锂电隔膜陶瓷涂层

6. 医用X光胶片基材

7. 光伏背板氟膜复合材料

8. 汽车贴膜聚氨酯层

9. LCD偏光片保护膜

10. FPC覆盖膜丙烯酸胶层

11. 半导体晶圆切割胶带

12. OLED封装阻水薄膜

13. PCB干膜光阻材料

14. 建筑玻璃隔热膜基材

15. 航空航天复合膜层材料

检测方法

ASTM D6287-17 非接触式厚度测量法

ISO 4591:1992 塑料薄膜长度测定法

GB/T 30761-2014 电子薄膜尺寸稳定性试验方法

ASTM F2251-13(2018) 透明材料透光均匀性测试

ISO 8512-2:2020 压敏胶带边缘直线度测定

GB/T 2918-2018 塑料试样状态调节标准环境

ASTM E2847-21 光学表面粗糙度白光干涉法

ISO 19280:2017 微孔结构尺寸显微测量法

GB/T 8809-2015 塑料薄膜抗摆锤冲击试验方法

ASTM D1204-14(2022) 塑料薄膜热收缩率测定规程

检测设备

Mitutoyo LSM-5000激光扫描仪：非接触式三维尺寸测量（精度±0.8μm）

TESA Micro-Hite复合式高度仪：多轴几何量精密检测（分辨率0.1μm）

Olympus DSX1000数码显微镜：500倍表面形貌分析系统

Instron 5943万能材料试验机：拉伸/压缩力学性能测试（载荷精度±0.5%）

Bruker ContourGT-X3白光干涉仪：纳米级表面粗糙度测量系统

Sartorius MA35水分分析仪：热重法测定材料收缩特性（精度0.01mg）

PerkinElmer Lambda1050分光光度计：光谱透射率准确测量系统（波长范围190-3300nm）

Toshiba TOSMETER MX-200热变形测试仪：温度控制精度±0.3℃的形变分析系统

中析研究所检测，科学公正准确！

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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